2016년 8월 31일 수요일

1. Wafer 측정용 접촉각측정기


  
1. Wafer 측정용 접촉각측정기
   - 측정범위 : 1  -180deg
   - Drop Type : Manual, Auto, Semi-Auto, Touch
   - Drop 량 최소 : -----ul
   - Wafer 장착되어 12" 이하도 측정가능하도록 Stage 제작됨
   - 표면에너지, 표면장력 등

 2. 문의
   park9981@gmail.com
   park0218@gmx.com
   010.7706.8096
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