접촉각측정기 Wafer 측정용 No -Plus

접촉각측정기 Wafer 측정용 No -Plus

   - 측정범위 :  1  - 180deg
   - Drop 방법 : Manual & Semi-Auto & Auto& Touch 겸용
     -  Drop 량 조절가능하며, 외부적인 영향을 최소화 하기  위한  장비로  개발
     - wafer 측정용 즉 12"
   - 구매요청시
     ** Drop 량 조절 Controller 장착 - 최소 1ul
     ** Price 궁금하시죠 최대로......

    문의
     park0218@gmx.com
     park9981@gmail.com
     010.7706.8096